本系统采用电阻加热方式，可测读国产、进口的各类型片状、杆状、粉末状的探测元件。读出器由串口连接PC，WinREMs 操作软件提供先进完善的剂量算法、发光曲线分析、加热方式设定、时间温度控制、维护和数据记录功能。仪器只有一个操作按钮及三个指示灯，操作简单。
● 金属盘，热电耦加热，可达600℃；
● 根据选择的剂量元件的形状，选择合适的样品盘；
● 充氮气，均匀加热样品，降低假性号；
● 剂量算法满足DOELAP 和NVLAP 认证要求；
● 读数周期：标准TTP，每片阅读时间20s；
● 参考光源稳定性：一定温度下，连续10 次读数的偏差<0.5%；
● 升温曲线重复性：±1℃；
● 稳定性：连续读10 次，标准偏差小于1.0µGy（TLD700）；
● 暗电流：相对小于50µGy（137Cs，TLD700）；
● 高压稳定性：±0.005%/ 小时，0.02%/8 小时；
● 最高加热温度：400℃（普通热电耦），600℃（特殊热电耦）。